Dit Project richt zich op het uitwerken, implementeren, testen en demonstreren van een industrieel bruikbare workflow op basis van diverse near-field meettechnieken om op efficiënte manier de root-cause van een EMC emissie probleem te vinden en kost-efficiënt op te lossen. Verder zal onderzocht en aangegeven worden hoe near-field technieken kunnen aangewend worden om vroeg in het ontwerpproces prototypes of (sub)modules te testen en te karakteriseren om latere problemen rond EMC, signaal- of vermogenintegriteit te vermijden.