Aftastende röntgenfluorescentie (XRF) microspectroscopie is een gevestigde techniek voor twee- of driedimensionale informatie over de elementaire verdeling in het getaste monstervolume tot op niveaudetectie te traceren. De methode is gebaseerd op het gebruik van een micro Röntgenstraal / nanostraal 2D / 3D rasterscans voeren op de onderzochte monsters, meestal verzamelen XRF punt spectra waarbij een enkelvoudige element EDX detectoren. De UGent XMI-groep is momenteel het verwerven van een unieke CCD-camera prototype (X-ray kleurencamera, IFG - Institute for Scientific Instruments GmbH, Berlijn, Duitsland), die de mogelijkheid om ruimtelijk en spectraal opgelost opnamen tegelijkertijd door het meten van de positie van alleenstaande heeft fotonen en hun energie tegelijkertijd in het energiegebied van 3-40 keV [1,2]. Het nieuwe detectiesysteem biedt nieuwe toepassingen röntgenmicroanalyse, vooral met betrekking tot 2D / 3D elementaire beeldvorming, waaronder röntgenfluorescentie microtomografie. Dit project beoogt de ontwikkeling en toepassing van een nieuwe full-field röntgenfluorescentie (XRF) imaging benadering met de bovengenoemde tweedimensionale EDX detectiesysteem voor niet-destructieve elementaire microanalyse. De aanpak zal waarschijnlijk betekenen een nieuwe fase van ontwikkeling in 2D / 3D elementaire beeldvorming met een breed scala aan toepassingen in het leven en milieuwetenschappen, geo-, cosmochemie en archeologie.