Een X-stralen nanotomograaf is een toestel dat toelaat om op niet-destructieve wijze beelden van het inwendige van materialen en voorwerpen te produceren met een ruimtelijke resolutie die beter is dan 1 micrometer. Het voorgestelde project beoogt de ontwikkeling van randapparatuur aan de nieuwe nanotomograaf van de UGent die zal toelaten om samples te gaan bestuderen onder geconditioneerde sample-omstandigheden zoals gecontroleerde temperatuur, vochtigheidsgraad, luchtdruk, atmosfeersamenstelling, duw- of trekkrachten enz.