Spikkel-gebaseerde X-stralen beeldvorming is een vernieuwende methode om fasecontrast en dark-field datasets op te nemen, twee beeldvormingsmodaliteiten die cruciale informatie bevatten over het onderzochte materiaal. We onderzoeken het spectrale gedrag van deze techniek in een labo-omgeving door gebruik te maken van een vernieuwende hyperspectrale X-stralen camera, en de bijkomende informatie die in dit spectroscopisch signaal zit te exploiteren.