Micro/nano-CT laat toe om op niet-destructieve wijze beelden van het inwendige van materialen en voorwerpen te produceren met een ruimtelijke resolutie in het micrometer of submicrometer gebeid. Dit project wil de onderliggende fysica van een aantal beeldartefactproblemen die bij micro/nano-CT scans optreden fundamenteel gaan bekijken en modelleren met als uiteindelijk doel tot een toepasbare, optimale oplossing ervoor te komen.