X-stralen ptychografie is een lensloze beeldvormingstechniek die X-stralen beeldvorming aan ultra-hoge resolutie tot een 10-tal nm mogelijk maakt Gecombineerd met tomografische acquisitie en reconstructie laat de techniek niet-destructieve 3D visualisatie en analyze op deze schaal toe van objecten en structuren, en is daardoor een zeer krachtig instrument in een groot aantal onderzoeksdomeinen

Conventionele ptychografie onthult echter enkel de morfologie en biedt geen spectroscopische informatie die nodig is voor chemische of magnetische gevoeligheid Verschillende datasets, opgenomen bij verschillende X-stralen energieën kunnen deze informatie bieden, maar dit is tijdrovend en gevoelig aan instabiliteiten

In dit project stellen we een nieuwe techniek voor om met een enkele acquisitie spectroscopische ptychografie (en bij uitbreiding spectroscopische ptychografische tomografie) uit te voeren met hyperspectrale X-stralen cameras Deze detecoren hebben een hoge spatiale en spectrale gevoeligheid, en meten een hoge-resolutie energiespectrum op per pixel in een semi-arbitrair grid Preliminaire experimenten hebben de haalbaarheid van deze techniek bewezen, doch er zijn nog veel uitdagingen om hiervan een robuuste karakterisatie-techniek te maken Dit project beoogt daarom de ontwikkeling van specifieke analysemethodologie en technieken om te de specifieke eigenschappen van deze detectoren optimaal te benutten, alsook de techniek toe te passen in meerdere onderzoeksdomeinen