Infrastructuur
Digitale microscoop – Eclipse
Type
Apparatuur
Acroniem
Eclipse
Code
APP/00320
Datum van ingebruikname
01-01-2014 → …
Organisatie
Beherende faculteit
Onderzoeksdisciplines
-
Engineering and technology
- Semiconductor devices, nanoelectronics and technology
Trefwoorden
hogeresolutie-beeldvorming
episcopische inspectie
oppervlakteanalyse
digitale microscoop
optische inspectie
diascopische inspectie
Merknaam/fabrikant
Nikon Eclipse LV100
Andere informatie
Omschrijving
Microscopische inspectie en beeldopname/-meting van stalen. Uitgerust met 15x oculairs, Nomarski-prisma’s en episcopische en diascopische filters.