Infrastructuur

Optisch profilometer – Wyko

Type
Apparatuur
Acroniem
Wyko
Code
APP/00310
Datum van ingebruikname
01-01-2008 → …
Onderzoeksdisciplines
  • Engineering and technology
    • Semiconductor devices, nanoelectronics and technology
Trefwoorden
oppervlaktemapping vormanalyse witlichtinterferometrie sub-nanometerresolutie oppervlakteruwheid
Merknaam/fabrikant
Veeco Wyko NT3300
Andere informatie
 
Omschrijving

Een witlichtinterferometer die een gebied van enkele millimeters breed in één meting kan in kaart brengen, met sub-nanometerresolutie. Biedt directe informatie over oppervlakteruwheid, vorm en golving.