Infrastructuur

JEOL 2200FS Hoge-resolutie TEM

Type
Apparatuur
Acroniem
HRTEM
Code
APP/00068
Datum van ingebruikname
01-03-2023 → …
Onderzoeksdisciplines
  • Engineering and technology
    • Metals and alloy materials
    • Nanomaterials
Trefwoorden
materiaalwetenschappen crystallografie Transmission Electron Microscopy elementenanalyse biowetenschappen TEM
Merknaam/fabrikant
JEOL
Andere informatie
 
Omschrijving

De JEOL JEM-2200FS is een FEG hoge-resolutie transmissie-elektronenmicroscoop binnen de TEM Core Facility. Het is uitgerust met een 200 kV veldemissiebron, een lenssferische-aberratiecorrector, een elektronenenergieverlies-spectrometer (filter) en een energie-dispersieve röntgen (EDX) spectrometer. Het bereikt een ruimtelijke resolutie van 0,13 nm.

De HRTEM kan atomaire resolutie bereiken op een verscheidenheid aan monsters en kan kristallografische informatie verschaffen over uw (nano-)kristallen. De EDX spectrometer kan worden gecombineerd met scanning-elektronenmicroscopie om een ruimtelijke kaart van de elementen in uw monster te verkrijgen.

De HRTEM bevindt zich op de campus Tech Lane Ghent Science Park, gebouw 46, Tech Lane Ghent Science Park, 9052 Gent.