Atomic force microscopy (AFM) - is technologie, die meestal wordt gebruikt voor het meten van zowel nanoschaal topografie als hun mechanische eigenschappen. Een aantrekkelijke en unieke operationele modaliteit van AFM is de zogenaamde BioAFM, waarbij de kop van de atoomkrachtmicroscoop bovenop een optische/fluorescentiemicroscoop wordt geplaatst. Recente ontwikkelingen op het gebied van atoomkrachtmicroscopie maken de implementatie van verschillende modaliteiten mogelijk, die onderzoek en meting van specifieke kenmerken mogelijk maken. Deze infrastructuur bestaat uit uitbreiding van het reeds bestaande BioAFM en omvat uitbreiding van de fluorescentiemicroscoop die kan worden geïntegreerd met AFM; hybride fase die enerzijds een grotere scan mogelijk maakt die nodig is voor nanoschaalgevoelig mechanisch eigendomsonderzoek van zowel kleine als grotere objecten, terwijl anderzijds het podium een nauwkeurige positionering van de AFM-kop op de gekozen locatie op de top van monsters mogelijk maakt; FluidFM-functionaliteit die in wezen een nanospuit vertegenwoordigt die in staat is monsters te manipuleren of te injecteren; elektrochemische module die onderzoek van nanochemie op nanoschaal mogelijk maakt.

Dit op nanobiotechnologie gebaseerde platform maakt het mogelijk om onderzoek van individuele moleculen en objecten op nanoschaal te bereiken, veelzijdige materiaalkarakterisering te bieden en onderzoek uit te voeren naar mechanische eigenschappen van zeer verschillende soorten monsters, waaronder cellen, planten, nanodeeltjes, hydrogels, composiet en anorganische materialen.