Instellingen beheren
MENU
Over deze site
In English
Home
Onderzoekers
Projecten
Organisaties
Publicaties
Contact
Research Explorer
Uw browser ondersteunt geen JavaScript of JavaScript is niet ingeschakeld. Zonder JavaScript kan sommige functionaliteit van deze webapplicatie uitgeschakeld zijn of foutmeldingen veroorzaken. Raadpleeg om JavaScript in te schakelen de handleiding van uw browser of contacteer uw systeembeheerder.
Onderzoeker
Greet Vanalme
Profiel
Projecten
Publicaties
Activiteiten
Prijzen & Erkenningen
33
Resultaten
2012
De veiligheid van een installatie bij vervormde stromen
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dimitry Vanhove
Nieuwsartikel
2012
2011
De veiligheid van een installatie bij vervormde stromen
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dimitry Vanhove
Nieuwsartikel
2011
Efficiëntere vermogenoverdracht
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dimitry Vanhove
Nieuwsartikel
2011
Harmonischen: een virus op het net?
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dimitry Vanhove
Nieuwsartikel
2011
Netfilters voor efficientere vermogenoverdracht
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dimitry Vanhove
Nieuwsartikel
2011
2010
Influence of harmonic currents on cable losses for different grid configurations
Jan Desmet
Greet Vanalme
Colin Debruyne
Lieven Vandevelde
C1
Conferentie
2010
Is zonne-energie economisch interessant?
Bart Verhelst
Jan Desmet
Colin Debruyne
Greet Vanalme
Johan Vanalme
A4
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKTROTECHNISCH INGENIEUR : BELGOTRONIC
2010
Maximum power injection acceptance in a residential area
Colin Debruyne
Jan Desmet
Johan Vanalme
Bart Verhelst
Greet Vanalme
Lieven Vandevelde
C1
Conferentie
2010
2009
Comparative study between passive and active front-end inverters with respect to inverter and cable losses
Jan Desmet
Greet Vanalme
Lieven Vandevelde
C1
Conferentie
2009
Gevolgen van de sterke groei van PV-panelen
Colin Debruyne
Jan Desmet
Lien Hespel
Bart Verhelst
Greet Vanalme
Johan Vanalme
A4
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKTROTECHNISCH INGENIEUR : BELGOTRONIC
2009
Profoto : proefveld voor fotovoltaïsche toepassingen
Jan Desmet
Greet Vanalme
Colin Debruyne
Bart Verhelst
A4
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKTROTECHNISCH INGENIEUR : BELGOTRONIC
2009
2008
Simulation of losses in LV cables due to nonlinear loads
Jan Desmet
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
D Van Dommelen
P1
Conferentie
2008
2007
9.2% van het electriciteitsverbruik gaat verloren in netwerkverliezen
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dries Putman
Colin Debruyne
Bart Verhelst
A4
Artikel in een tijdschrift
in
TECHNOLOGY UPGRADE
2007
Analysis on the increased losses in supply systems due to voltage drop and voltage distortion
Jan Desmet
Dries Putman
Greet Vanalme
Ronny Belmans
P1
Conferentie
2007
Thermal transient analysis of underground cables
Jan Desmet
Dries Putman
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
Eric Cloet
C1
Conferentie
2007
2005
Sensitivity of personal computers to voltage sags and short interruptions
SŽ Djokic
Jan Desmet
Greet Vanalme
JV Milanovic
Kurt Stockman
A1
Artikel in een tijdschrift
in
IEEE Transactions on Power Delivery
2005
Thermal analysis of parallel underground energy cables
Jan Desmet
Dries Putman
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
D Vandommelen
C1
Conferentie
2005
2004
Modelling and sensivity analysis of the thermal behaviour of LV cables for different load conditions
Jan Desmet
Dries Putman
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
C1
Conferentie
2004
Power quality and safety
Jan Desmet
Greet Vanalme
Dries Putman
Gregory Delaere
A4
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKTROTECHNISCH INGENIEUR : BELGOTRONIC
2004
2003
Analysis of the neutral conductor current in a three-phase supplied network with nonlinear single-phase loads
Jan Desmet
Isabel Sweertvaegher
Greet Vanalme
Kurt Stockman
Ronny Belmans
A1
Artikel in een tijdschrift
in
IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS
2003
Evaluatie van, toepassing en opmerkingen op de IEC 61000-3-2 norm
Jan Desmet
Gregory Delaere
Dries Putman
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
A4
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKTROTECHNISCH INGENIEUR : BELGOTRONIC
2003
Influence of voltage sags on personal computers and PWM drives
SZ Djokic
JV Milanovic
Kurt Stockman
Jan Desmet
Greet Vanalme
C1
Conferentie
2003
Influence of voltage sags on personal computers and PWM drives
SZ Djokic
JV Mertens
Jan Desmet
Kurt Stockman
Greet Vanalme
A2
Artikel in een tijdschrift
in
ELEKROTNIKA
2003
2002
Analysis of the behaviour of fusing systems in the presence of non linear loads
Jan Desmet
Greet Vanalme
Kurt Stockman
Ronnie Belmans
P1
Conferentie
2002
Evaluation, practice and remarks on the IEC 61000-3-2 standard
Jan Desmet
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
C1
Conferentie
2002
Total harmonic current of a large number of non-linear single phase loads
Jan Desmet
Isabel Sweertvaegher
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
C1
Conferentie
2002
2001
Analysis of electrical and power quality parameters of IT-equipment
Jan Desmet
Isabel Sweertvaegher
Greet Vanalme
Kurt Stockman
Ronnie Belmans
C1
Conferentie
2001
On line monitoring of the neutral conductor current in a three phase supplied network with non linear load for different power supply and load conditions
Jan Desmet
Isabel Sweertvaegher
Greet Vanalme
Ronnie Belmans
C1
Conferentie
2001
2000
Studie van de invloed van productieprocesstappen op de elektrische eigenschappen van metaal/n-GaAs en metaal/n-AlxGa1-x schottkycontacten
Greet Vanalme
Felix Cardon
Roland Vanmeirhaeghe
Proefschrift
2000
1999
A ballistic electron emission microscopy study of barrier height inhomogeneities introduced in Au/III-V semiconductor Schottky barrier contacts by chemical pretreatments.
Greet Vanalme
Lieve Goubert
Roland Vanmeirhaeghe
Felix Cardon
Peter Van Daele
A1
Artikel in een tijdschrift
in
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
1999
BEEM studies of the PtSi/Si(100) interface electronic structure.
T VDOVENKOVA
V STRIKHA
Felix Cardon
Roland Vanmeirhaeghe
Greet Vanalme
A1
Artikel in een tijdschrift
in
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA
1999
1998
A ballistic electron-emission microscopy (BEEM)-investigation of the effects of chemical pretreatments on III-V semiconductor Schottky barriers.
Roland Vanmeirhaeghe
Greet Vanalme
Lieve Goubert
Felix Cardon
Peter Van Daele
C1
Conferentie
1998
1997
A ballistic electron emission microscopy (BEEM) study of the barrier height change of Au/n-GaAs Schottky barriers due to reactive ion etching.
Greet Vanalme
Roland Vanmeirhaeghe
Felix Cardon
Peter Van Daele
A1
Artikel in een tijdschrift
in
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY
1997