Infrastructuur

Profilometer

Type
Apparatuur
Acroniem
Tencor
Code
APP/00311
Datum van ingebruikname
01-01-1995 → …
Onderzoeksdisciplines
  • Engineering and technology
    • Semiconductor devices, nanoelectronics and technology
Trefwoorden
stylusmeting nanometerresolutie hoogtedetectie oppervlakteprofilering
Merknaam/fabrikant
Tencor Alphastep 200
Andere informatie
 
Omschrijving

Stylus profilometer for measuring surface height profiles on substrates, from hundreds of micrometers to tens of nanometers. Uses a needle probe to detect and calculate surface displacements.