Infrastructuur

Profilometer

Type
Apparatuur
Acroniem
Tencor
Code
APP/00311
Datum van ingebruikname
01-01-1995 → …
Onderzoeksdisciplines
  • Engineering and technology
    • Semiconductor devices, nanoelectronics and technology
Trefwoorden
stylusmeting nanometerresolutie hoogtedetectie oppervlakteprofilering
Merknaam/fabrikant
Tencor Alphastep 200
Andere informatie
 
Omschrijving

Stylusprofilometer voor het meten van hoogteprofielen op substraten, van honderden micrometers tot tientallen nanometers. Gebruikt een naaldsonde om oppervlakteschommelingen te detecteren en berekenen.